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Angebot 344 von 344 vom 07.08.2023, 07:59

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Tech­ni­sche Uni­ver­sität Ber­lin - Fakul­tät IV - Insti­tut für Tech­ni­sche Infor­ma­tik und Mikro­elek­tro­nik / FG Remote Sen­sing Image Ana­ly­sis

Wiss. Mit­ar­bei­ter*in (d/m/w) - Ent­gelt­gruppe 14 TV-L Ber­li­ner Hoch­schu­len - Zur Qua­li­fi­zie­rung

Teil­zeit­be­schäf­ti­gung ist ggf. mög­lich

Aufgabenbeschreibung:

Die Remote Sen­sing Image Ana­ly­sis Gruppe (www.rsim.berlin) führt im Rah­men von BIFOLD (www.bifold.berlin) Grund­la­gen- und ange­wandte For­schung in den Berei­chen Daten­ma­nage­ment und Machine Lear­ning für die Erd­be­ob­ach­tung (EO) durch. Der­zeit suchen wir eine*n Post­Doc für einen oder meh­rere der fol­gen­den Berei­che:
1. Daten­schutz­be­wah­rende Ana­lyse von EO-Daten
2. Con­ti­nual Lear­ning für die Ana­lyse gro­ßer EO-Daten
3. Ana­lyse hete­ro­ge­ner EO-Daten aus meh­re­ren Quel­len
4. Ana­lyse gro­ßer EO-Daten unter Berück­sich­ti­gung von Daten­un­si­cher­hei­ten

Neben der For­schung wird der*die Post­Doc auch Lehr­auf­ga­ben wahr­neh­men. Dazu gehö­ren die Betreu­ung von Bache­lor-, Mas­ter- und PhD-Stu­die­ren­den.
Die Koor­di­nie­rung von inter­dis­zi­pli­nä­ren For­schungs­pro­jek­ten ist ebenso eine Auf­gabe.

Erwartete Qualifikationen:

  • Erfolg­reich abge­schlos­se­nes wis­sen­schaft­li­ches Hoch­schul­stu­dium (Mas­ter, Diplom oder Äqui­va­lent) und Pro­mo­tion in den Berei­chen data manage­ment, scala­ble data ana­ly­sis und machine lear­ning erfor­der­lich
  • For­schungs­er­fah­rung (nach­ge­wie­sen durch ein­schlä­gige wis­sen­schaft­li­che Ver­öf­fent­li­chun­gen und sehr gute Kennt­nisse in theo­re­ti­scher und ange­wand­ter/prak­ti­scher Infor­ma­tik) erfor­der­lich
  • Sehr gute Kennt­nisse der eng­li­schen Spra­che erfor­der­lich; die Fähig­keit zum Unter­rich­ten, sowohl in deut­scher als auch in eng­li­scher Spra­che wird vor­aus­ge­setzt
  • Erfah­run­gen in der Open-Source-Ent­wick­lung, im Pro­jekt­ma­nage­ment und Kennt­nisse der deut­schen Spra­che wün­schens­wert

Hinweise zur Bewerbung:

Ihre schrift­li­che Bewer­bung rich­ten Sie bitte unter Angabe der Kenn­zif­fer mit den übli­chen Unter­la­gen (insb. Lebens­lauf und Scans der Hoch­schul­zeug­nisse) an die Tech­ni­sche Uni­ver­si­tät Ber­lin - Die Prä­si­den­tin - Fakul­tät IV, Insti­tut für Tech­ni­sche Infor­ma­tik und Mikro­elek­tro­nik, FG Remote Sen­sing Image Ana­ly­sis, Frau Prof. Dr. Begüm Demir, Sekr. EN 5, Ein­stein­ufer 17, 10587 Ber­lin oder per Email an jobs@rsim.tu-berlin.de.

Aus Kos­ten­grün­den wer­den die Bewer­bungs­un­ter­la­gen nicht zurück­ge­sandt. Bitte rei­chen Sie nur Kopien ein.

Zur Wah­rung der Chan­cen­gleich­heit zwi­schen Frauen und Män­nern sind Bewer­bun­gen von Frauen mit der jewei­li­gen Qua­li­fi­ka­tion aus­drück­lich erwünscht. Schwer­be­hin­derte wer­den bei glei­cher Eig­nung bevor­zugt berück­sich­tigt. Die TU Ber­lin schätzt die Viel­falt ihrer Mit­glie­der und ver­folgt die Ziele der Chan­cen­gleich­heit.

Mit der Abgabe einer Online­be­wer­bung geben Sie als Bewer­ber*in Ihr Ein­ver­ständ­nis, dass Ihre Daten elek­tro­nisch ver­ar­bei­tet und gespei­chert wer­den. Wir wei­sen dar­auf hin, dass bei unge­schütz­ter Über­sen­dung Ihrer Bewer­bung auf elek­tro­ni­schem Wege keine Gewähr für die Sicher­heit über­mit­tel­ter per­sön­li­cher Daten über­nom­men wer­den kann. Daten­schutz­recht­li­che Hin­weise zur Ver­ar­bei­tung Ihrer Daten gem. DSGVO fin­den Sie auf der Web­seite der Per­so­nal­ab­tei­lung:
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